Infos utiles.
ATTENTION :
Ce projet est fortement développé et sera relancé quand il sera prêt (approximativement à la fin de 2017). Tous les résultats obtenus avant le relancement seront probablement perdus.Ce projet est gérer à l'initiative de la Fondation russe pour la recherche fondamentale :
http://www.rfbr.ru/rffi/engProjet découvert par :
lionelc 
Statut :
Projet terminerURL du projet :
http://xansons4cod.com/xansons4cod/Applications disponible :
http://xansons4cod.com/xansons4cod/apps.phpÉtat du serveur :
http://xansons4cod.com/xansons4cod/server_status.phpL'alliance francophone :
http://52.55.66.34/xansons4cod/team_display.php?teamid=9 Classement mondial de L'af :
http://boincstats.com/fr/stats/169/team/list/Article sur le site de L'af : pas d'article
Résumé.
XANSONS [ça semble être un logiciel qui simule des rayons-x et des neutrons] pour BLC (Base de données Libre de Crystallography) est un projet de recherche dont le but est de créer une base de données en libre accès de schéma diffraction de poudre (diffraction aux rayons X et diffraction de neutrons) de la phase nanocristalline des matériaux présentés dans le BLC [COD en anglais]. Vous pouvez participer en téléchargeant et exécutant un programme [logiciel/application] gratuit sur votre ordinateur.
Ce projet est en cours de développement intense et sera relancé une fois prêt (vers fin 2017). Tous les résultats obtenus avant le relancement seront probablement perdus.
Ce projet utilise la version originale du logiciel open source [« code source ouvert »] (sous licence GPLv3) XaNSoNS (Dispersion des Rayons X et Neutrons sur des structures nanométriques [je sais pas pourquoi on passe de diffraction à dispersion]) pour simuler les schémas de diffractions sur processeur (CPU) et carte graphique (GPU).
La technique conventionnelle utilisée pour retrouver les propriétés structurelles des échantillons cristallins par les schémas de leur diffraction de poudre est nommé la méthode <de raffinement [en français c’est juste méthode de Rietveld]> de Rietveld. Dans cette méthode, le schéma théorique de la diffraction de poudre (je suis pas sûr de la suite) est raffiné/affiné jusqu’à ce qu’il corresponde au schéma expérimental. [d’ailleurs plutôt que schéma ça serait peut-être figure de diffraction] Le calcul des angles et de l’intensité des pics de Bragg peuvent être fait pratiquement instantanément dans l’approximation de la taille infinie [infinie je ne sais pas pourquoi du tout] de la cristallite [les cristaux sont généralement composés de plusieurs monocristaux : les cristallites]. Pour ajuster la taille « finie » des cristallites dans les échantillons ou la résolution « finie » de l’outil de mesure, ces pick sont élargis artificiellement avec la fonction d’élargissement (habituellement Gaussienne). Cet élargissement artificiel fonctionne bien tant que la taille de la cristallite dans l’échantillon est supérieure à une dizaine de nanomètres [j’ai failli faire un contresens xD]. Pour des cristallites aussi petites [inférieures à 10 nanomètres], il est très compliqué d’obtenir la bonne fonction d’élargissement qui fonctionne correctement avec tous les pics de Bragg. Heureusement, pour de si petites cristallites, il n’est pas problématique de calculer la figure de diffraction de poudre [j’ai adopté figure au final à la place de schéma ici, vous me direz ce qui colle le mieux pour vous] en utilisant l’équation de Debye (avec l’approximation distance-histogramme [là j’ai rien trouvé à ce sujet], comme proposé par Marcin Wodjyr et implémenté dans son code de Debyer). Ce projet a pour but de calculer les figures de diffraction de poudre (diffraction aux rayons X et diffraction de neutron) pour des nanocristallites avec une taille variant de 6 à 21 nanomètres pour la majorité des entrées de la Base de données Libre de Cristallographie. La base de données obtenue devrait simplifier l’étude d’échantillons nanocristallins et compléter la méthode de Profil Complet de Recherche par Correspondance [je suis pas sûr] dans l’analyse de la taille des cristallites des échantillons nanocristallins.
En plus de cela, le calcul de figure de diffraction utilisant l’équation de Debye permet de prendre en compte les défauts du réseau [un réseau mais pas informatique, plus comme un treillis] tels que des vides, et des remplacements et déplacements d’atomes. Donc, si le Fichier d’Information Cristallographique (CIF) pour une structure donnée procure les paramètres de taux d’occupation et de déplacements atomiques, l’application les utilisera pour calculer la figure de diffraction.
Traduction Kao.Mis a jour par fzs600 le 3 septembre 2019 .
